単一分子計測＆回折X線の追跡
英語 (米国)
日本語
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研究内容
実験装置
メンバー
修士・博士テーマ
発表論文
発表動画
新聞発表
2014年11月1日 平成26年度日本結晶学会年会
日本結晶学会年会
において、下記発表をしてきました！
会期:平成26年11月1日（土）～ 3日（月・祝）
会場:東京大学農学部（本郷キャンパス弥生地区）
○松下祐福、関口博史、太田昇、池崎圭吾、後藤祐児、佐々木裕次
「Ｘ線１分子追跡法を用いた過飽和溶液中の前駆体クラスターの物性評価」
